X射線熒光(XRF)儀器的工作原理

  X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對(duì)被測(cè)樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過測(cè)量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y(cè)材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

  X射線熒光分析的優(yōu)點(diǎn)如下：

zui少或無需樣品制備

無損分析　

可測(cè)元素范圍廣： Ti 22 to U92

可分析固體和溶液

分析快速：幾秒內(nèi)得到結(jié)果

定性、半定量和全定量分析

操作容易，只需要簡(jiǎn)單培訓(xùn)

X射線熒光標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方法、規(guī)格和操作指導(dǎo)通用，可提高產(chǎn)品質(zhì)量、

安全性，便于市場(chǎng)準(zhǔn)入和貿(mào)易，增強(qiáng)客戶信心。

常規(guī)儀器應(yīng)用如德國菲希爾x-ray鍍層測(cè)厚儀、牛津x射線測(cè)厚儀等。

其他測(cè)量?jī)x器引讀：鐵素體測(cè)量?jī)x、紫外線燈。